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1. RF射頻電路設(shè)計(jì)培訓(xùn)
   第一講 射頻和數(shù)字電路的不同設(shè)計(jì)方法
   1.1 爭論
   1.1.1阻抗匹配
   1.1.2關(guān)鍵參數(shù)
   1.1.3線路測試和主要測試設(shè)備
   1.2 在通訊系統(tǒng)中射頻和數(shù)字方塊的差別?
   1.2.1阻抗
   1.2.2電流
   1.2.3方塊位置
   1.3 結(jié)論
   1.4 給高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)提點(diǎn)意見
2. 第二講 電壓和功率力傳輸
   2.1 從源發(fā)送電壓至負(fù)載?
   2.1.1在數(shù)字電路方塊中的附加Jitter或畸變。
   2.2 從源發(fā)送電壓至負(fù)載的一般表達(dá)式?
   2.2.1功率的不穩(wěn)定性
   2.2.2附加的功率損失
   2.2.3附加畸變
   2.2.4附加干擾
   2.3 從源發(fā)送功率至負(fù)載
   2.3.1最大的功率傳輸
   2.3.2無相移的功率傳輸
   2.3.3阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)
   2.3.4阻抗匹配的必要性
   2.4 阻抗共軛匹配
   2.4.1借助于阻抗匹配來抬高電壓
   2.4.2功率測量
   2.5 阻抗匹配的附加效應(yīng)
3. 第三講 在窄帶情況下的阻抗匹配
   3.2 借助于返回?fù)p失的調(diào)整進(jìn)行阻抗匹配
   3.2.1在Smith圖上的返回?fù)p失圓
   3.2.2返回?fù)p失和阻抗匹配的關(guān)系
   3.2.3阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)的建造
   3.3 一個(gè)零件的阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)
   3.3.1在阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)串接一個(gè)零件
   3.3.2在阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)并接一個(gè)零件
   3.4 兩個(gè)零件的阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)
   3.4.1在Smith圖上的區(qū)域劃分
   3.4.2零件的數(shù)值
   3.4.3線路的選擇
   3.5 三個(gè)零件的阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)
   3.5.1 "∏" and "T" 型的匹配網(wǎng)絡(luò)
   3.5.2 推薦的匹配網(wǎng)絡(luò)線路P1/4
   3.6 當(dāng) ZS 或 ZL 不是50 Ω的阻抗匹配
   3.7 阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)的零件
4. 第四講 在寬帶情況下的阻抗匹配
   4.1 寬窄帶返回?fù)p失在Smith圖上的表現(xiàn)。
   4.2 接上每臂或每分支含有一個(gè)零件之后阻抗的變化
   4.2.1在阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)串接一個(gè)電容
   4.2.2在阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)串接一個(gè)電感
   4.2.3在阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)并接一個(gè)電容
   4.2.4在阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)串接一個(gè)電感
   4.3 接上每臂或每分支含有兩個(gè)零件之后阻抗的變化
   4.3.1兩個(gè)零件串接在一起形成一臂
   4.3.2兩個(gè)零件并接在一起形成一分支
   4.4 超寬帶系統(tǒng)IQ調(diào)制器設(shè)計(jì)的阻抗匹配
   4.4.1在IQ 調(diào)制器中的Gilbert Cell 。
   4.4.2Gilbert Cell的阻抗
   4.4.3不考濾帶寬在LO, RF and IF 終端的阻抗匹配
   4.4.4超寬帶系統(tǒng)對(duì)帶寬的要求。
   4.4.5擴(kuò)展帶寬的基本思路。
   4.4.6第一個(gè)例子: 在超寬帶系統(tǒng)第一組IQ?調(diào)制器設(shè)計(jì)中的阻抗匹配
   4.4.7第二個(gè)例子: 在超寬帶系統(tǒng)第三和第六組IQ?調(diào)制器設(shè)計(jì)中的阻抗匹配
   4.5 Discussion of Wide-band Impedance Matching Network
   4.5.1MOSFET 管子?xùn)艠O的阻抗匹配 4.5.2 MOSFET 管子漏極的阻抗匹配
5. 第五講 阻抗測量
   5.1 引言
   5.2 標(biāo)量和矢量的電壓測量
   5.2.1示波器的電壓測量
   5.2.2矢量電壓計(jì)的電壓測量
   5.3 用網(wǎng)絡(luò)分析儀直接測量阻抗
   5.3.1阻抗測量的方向性
   5.3.2S 參數(shù)測量的好處
   5.3.3S 參數(shù)阻抗測量的理論背景
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